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 [最新研究成果] トランジスタ特性ばらつきについて |
2010年8月4日(水) |
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[最新研究成果] Exhaustive and systematic accuracy verification and enhancement of STI stress compact model for general realistic layout patterns | 2010年8月2日(月) |
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[最新研究成果] TCADを用いたトランジスタのばらつき解析 | 2010年7月28日(水) |
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[最新研究成果] Possible Origins of Extra Threshold Voltage Variability in N-Type Field-Effect Transistors by Intentionally Changing Process Conditions and Using Takeuchi plot | 2010年7月20日(火) |
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Selete Symposium 2010が終了いたしました。 | 2010年5月27日(木) |
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MIRAIプロジェクト・ホームページ内のM/Cネットページへのリンクを掲載いたしました。 | 2007年5月29日(火) |
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コーポレートロゴを変更しました。 | 2006年4月1日(土) |
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ホームページをリニューアルしました。 | 2006年4月1日(土) |
Selete: Semiconductor Leading Edge Technologies